奈米雷射粒徑分析儀


奈米雷射粒徑分析儀:
當雷射光束照射到奈米顆粒上的時候將產生脈動的散射光信號,這些光信號強度的變化率與顆粒的運動狀態(速度和幅度)有關,也就與粒徑有關,通過光電倍增管將這些脈動的散射光信號接收並轉換成電信號,再通過數位相關器進行處理,識別出有效的動態光散射信號,再經過特殊軟體的反演處理,利用Stokes-Einstein方程計算得出奈米顆粒粒徑及其顆粒大小分分布了。

各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、矽灰石、水鎂石、重晶石、雲母粉、膨潤土、矽藻土、黏土、二氧化矽、石榴石、矽酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。

各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。

其它粉體:如鋰電池材料、催化劑、螢光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、塗料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、奈米材料、造紙填料塗料、各種乳濁液等。


顯示模式:

Zeta電位儀|奈米粒徑分析

Zeta 電位
• 測試範圍: -500mv ~ 500mv
• 粒徑範圍: 1nm-10μm(與樣品有關)

奈米粒徑:
• 粒徑範圍:1nm-9500nm
• 重覆性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 準確性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)

分子量測試:
• 分子量範圍: 1000Da—2*107Da
• 重覆性誤差:≤5%
• 準確性誤差:≤10%

奈米雷射粒徑分析儀

• 粒徑範圍:1nm-9500nm
• 重覆性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 準確性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 散射角:90°
• 感測器:PMT-光電倍增管