圖像粒徑分析儀

適用於分布範圍較窄（最大粒徑與最小粒徑之比小於30）的樣品。
磨料：碳化矽、剛玉、金剛石、石榴石等。
電池材料：球形石墨粉等。
金屬粉：球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。
非金屬粉：玻璃珠、聚苯乙烯等。
針狀粉：矽灰石等。
食品：牛奶、麵粉等。
其他：研究、教學等。

顯示模式：

型號 : D2

• 粒徑範圍:乾式:30µm-10000µm 溼式:2µm-3500µm
• 放大倍數:9-300倍
• 重複性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
• 準確性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
• CCD攝影: 120幅/秒
• 顆粒識別速度: ≥10000個/分鐘

型號 : W1

• 粒徑範圍:4µm-400µm
• 重覆性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
• 準確性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
• CCD攝影: 120幅/秒
• 顆粒識別速度: ≥10000個/分鐘