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產品介紹
紅外線測溫儀-太陽能、晶體生長過程
型號 :
PhotriX
•測溫範圍:75°C -2600 °C。
•波長: 五個不同的近紅外光譜(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)
•應用於: 具有低輻射率的金屬、鋁、銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積、非晶矽薄膜沉積、雷射加熱過程、直拉晶體生長、光纖拉絲、感應加熱。
•波長: 五個不同的近紅外光譜(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)
•應用於: 具有低輻射率的金屬、鋁、銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積、非晶矽薄膜沉積、雷射加熱過程、直拉晶體生長、光纖拉絲、感應加熱。
Photrix系列是我們最為精確的測溫儀，擁有行業內最好的信噪比，可測量低溫，實現小光斑尺寸以及快速回應時間（1毫秒）。標準鏡頭配置有5種光譜響應（波長），具有以下特點:
低溫測量功能（具體內容請參照以下）
1.75°C溫度條件下光譜回應為700-1650nm
2.125°C溫度條件下光譜回應為1550nm
3.270°C溫度條件下光譜回應為900nm
4.280°C溫度條件下光譜回應為880nm
光斑尺寸小，最小為0.5毫米（在99%能源條件下）
回應時間短，僅1毫秒
精確度+/- 1.5 °C或讀數的0.15%
精度0.01 °C（詳見技術資料TN-828）
