• 紅外線測溫儀-太陽能、晶體生長過程

紅外線測溫儀-太陽能、晶體生長過程

•測溫範圍:75°C -2600 °C。
•波長: 五個不同的近紅外光譜(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)
•應用於: 具有低輻射率的金屬、鋁、銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積、非晶矽薄膜沉積、雷射加熱過程、直拉晶體生長、光纖拉絲、感應加熱。
型號 : PhotriX

Photrix系列是我們最為精確的測溫儀,擁有行業內最好的信噪比,可測低溫,實現小光斑尺寸以及快速回應時間(1毫秒)。標準鏡頭配置有5種光譜響應(波長),具有以下特點:

低溫測量功能(具體內容請參照以下)
1.75°C溫度條件下光譜回應為700-1650nm
2.125°C溫度條件下光譜回應為1550nm
3.270°C溫度條件下光譜回應為900nm
4.280°C溫度條件下光譜回應為880nm

  光斑尺寸小,最小為0.5毫米(在99%能源條件下)

回應時間短,僅1毫秒

精確度+/- 1.5 °C或讀數的0.15%

精度0.01 °C(詳見技術資料TN-828)

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