紅外線溫度感測器|測溫儀-特殊材料
紅外線測溫儀-太陽能、晶體生長過程
•測溫範圍:75°C -2600 °C。
•波長: 五個不同的近紅外光譜(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)
•應用於: 具有低輻射率的金屬、鋁、銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積、非晶矽薄膜沉積、雷射加熱過程、直拉晶體生長、光纖拉絲、感應加熱。
•波長: 五個不同的近紅外光譜(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)
•應用於: 具有低輻射率的金屬、鋁、銅銦鎵硒(CIGS)薄膜太陽能沉積、非晶矽薄膜沉積、雷射加熱過程、直拉晶體生長、光纖拉絲、感應加熱。