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  • Keller 智能高溫計

Keller 智能高溫計

型號 : Pyrometer CellaTemp PX 系列
精密光學測溫儀(0°C 至 +3200°C),具可對焦光學與 IO-Link 通訊。

•高精度的寬測量範圍 

•模組化設計:電子元件和5種光學鏡頭 

•可調焦鏡頭 

• 3種瞄準方式:目鏡,攝像頭或鐳射瞄準

•緊湊型號和光纖探頭型號 

•雙色和單色高溫計可選 

• IO-Link 接口 


   單色高溫計                                                                                                                          

   型號

   測量範圍

 應用

靶點外型

   PX10   

   0-1000°C

非金屬

非反光金屬表面

   PX13

   500 - 1600 °C    

火焰加熱

   PX15

   300 - 1300 °C

玻璃表面

   500 - 2500 °C

   PX17

  400 - 2000 °C

熱燃燒氣體(CO₂)

   PX18

  500 - 2500 °C

熱燃燒氣體(CO)

   PX20

  210 - 2000 °C

金屬、陶瓷、液態玻璃

  350 - 2500 °C

   PX21

  250 - 2000 °C

金屬、陶瓷、液態玻璃


   PX28

  75 - 650 °C

鋁、反光金屬表面、鐳射應用

   PX29

  150 - 800 °C

鋁、反光金屬表面、鐳射應用、PVD塗層工藝

  180 - 1200 °C

  250 - 2000 °C

   PX30

  500 - 2500 °C

金屬、陶瓷、高溫

   PX31

  650 - 3000 °C

金屬的精密測量、半導體


   PX36

  600 - 3000 °C

金屬的精密測量、半導體



 

       雙色高溫計                                                                                                               

    型號        

    測量範圍        

應用

靶點外型

   PX40

  500 - 1400 °C

非金屬非

反光金屬表面

  650 - 1700 °C

  750 - 2400 °C

  850 - 3000 °C

   PX43

  600 - 1400 °C

線材、棒材、線圈加熱、電加熱絲

  650 - 1700 °C

  750 - 2400 °C

  850 - 3000 °C

   PX44

  750 - 3000 °C

矽、碳化矽

   PX45

  900 - 3200 °

石墨生產,晶體生長

   PX47

  700 - 1700 °C

燃燒煙氣

   PX50

  500 - 1400 °C

低溫金屬

   PX60

  300 - 800 °C

超低溫金屬


  400 - 1000 °C

   PX28

  75 - 650 °C

鋁、反光金屬表面、鐳射應用

   PX64

  500 - 1400 °C

CVD塗層工藝

   PX41

  700 - 1800 °C

金屬、水泥、石灰,石墨,玻璃晶體、

晶體生長


  800 - 2400 °C

  900 - 3000 °C



CellaTemp® PX系列



CellaTemp® PX基於模組化的功能——光學系統、感測器、信號處理、資料輸出和目標瞄準。


光學系統(1)有5種有效物鏡可選擇。可根據靶點尺寸和測量距離來選擇最合適的鏡頭。並且高溫計可在寬範圍內對焦以確保其精確度。

光圈(2)決定測量面積的形狀,標準的高溫計靶點是圓形的,作為一個選擇,雙色高溫計也可以配置矩形的測量靶點。

感測器(3)檢測從物體表面發出的紅外輻射,這是基於最新的直流技術並且不包含任何移動部件。依照不同的型號,CellaTemp高溫計分為單色高溫計(單波長檢測器)和雙色高溫計(雙波長檢測器)。

特殊的信號處理器(4)結合高解析度的模數轉換器實現寬的測溫範圍。並在整個測量範圍內保持一致的高解析度。

測量資料的輸出(5) CellaTemp PX擁有1路模擬輸出、2路開關量輸出和最新技術的IO-LINK網路通用介面。

3種目標瞄準模式(6),通過目鏡、鐳射瞄準或者攝像頭瞄準可以更好地聚焦、對準目標和測量光斑大小。


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