INSTECH
•高精度的寬測量範圍
•模組化設計:電子元件和5種光學鏡頭
•可調焦鏡頭
• 3種瞄準方式:目鏡,攝像頭或鐳射瞄準
•緊湊型號和光纖探頭型號
•雙色和單色高溫計可選
• IO-Link 接口
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單色高溫計 |
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型號 |
測量範圍 |
應用 |
靶點外型 |
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PX10 |
0-1000°C |
非金屬 非反光金屬表面 |
○ |
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PX13 |
500 - 1600 °C |
火焰加熱 |
○ |
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PX15 |
300 - 1300 °C |
玻璃表面 |
○ |
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500 - 2500 °C |
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PX17 |
400 - 2000 °C |
熱燃燒氣體(CO₂) |
○ |
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PX18 |
500 - 2500 °C |
熱燃燒氣體(CO) |
○ |
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PX20 |
210 - 2000 °C |
金屬、陶瓷、液態玻璃 |
○ |
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350 - 2500 °C |
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PX21 |
250 - 2000 °C |
金屬、陶瓷、液態玻璃 |
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PX28 |
75 - 650 °C |
鋁、反光金屬表面、鐳射應用 |
○ |
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PX29 |
150 - 800 °C |
鋁、反光金屬表面、鐳射應用、PVD塗層工藝 |
○ |
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180 - 1200 °C |
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250 - 2000 °C |
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PX30 |
500 - 2500 °C |
金屬、陶瓷、高溫 |
○ |
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PX31 |
650 - 3000 °C |
金屬的精密測量、半導體 |
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PX36 |
600 - 3000 °C |
金屬的精密測量、半導體 |
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雙色高溫計 |
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型號 |
測量範圍 |
應用 |
靶點外型 |
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PX40 |
500 - 1400 °C |
非金屬非 反光金屬表面 |
○ |
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650 - 1700 °C |
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750 - 2400 °C |
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850 - 3000 °C |
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PX43 |
600 - 1400 °C |
線材、棒材、線圈加熱、電加熱絲 |
口 |
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650 - 1700 °C |
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750 - 2400 °C |
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850 - 3000 °C |
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PX44 |
750 - 3000 °C |
矽、碳化矽 |
○ |
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PX45 |
900 - 3200 ° |
石墨生產,晶體生長 |
○ |
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PX47 |
700 - 1700 °C |
燃燒煙氣 |
○ |
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PX50 |
500 - 1400 °C |
低溫金屬 |
○ |
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PX60 |
300 - 800 °C |
超低溫金屬 |
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400 - 1000 °C |
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PX28 |
75 - 650 °C |
鋁、反光金屬表面、鐳射應用 |
○ |
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PX64 |
500 - 1400 °C |
CVD塗層工藝 |
○ |
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PX41 |
700 - 1800 °C |
金屬、水泥、石灰,石墨,玻璃晶體、 晶體生長 |
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800 - 2400 °C |
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900 - 3000 °C |
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CellaTemp® PX系列
光學系統(1)有5種有效物鏡可選擇。可根據靶點尺寸和測量距離來選擇最合適的鏡頭。並且高溫計可在寬範圍內對焦以確保其精確度。
光圈(2)決定測量面積的形狀,標準的高溫計靶點是圓形的,作為一個選擇,雙色高溫計也可以配置矩形的測量靶點。
感測器(3)檢測從物體表面發出的紅外輻射,這是基於最新的直流技術並且不包含任何移動部件。依照不同的型號,CellaTemp高溫計分為單色高溫計(單波長檢測器)和雙色高溫計(雙波長檢測器)。
特殊的信號處理器(4)結合高解析度的模數轉換器實現寬的測溫範圍。並在整個測量範圍內保持一致的高解析度。
測量資料的輸出(5) CellaTemp PX擁有1路模擬輸出、2路開關量輸出和最新技術的IO-LINK網路通用介面。
3種目標瞄準模式(6),通過目鏡、鐳射瞄準或者攝像頭瞄準可以更好地聚焦、對準目標和測量光斑大小。