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KELLER ITS -高溫計
用於工業環境中-30°C至3,500°C紅外線溫度測量的高溫計
Keller 紅外線高溫計
型號 : Pyrometer CellaTemp PK/PKL/PKF 系列
非接觸式溫度測量
測量範圍-30°C 至 2500°C
MORE
keller 攜帶式紅外線測溫儀
型號 : PT系列
• 測量範圍 0 – 3000 °C / 32 – 5432 °F
• 有 10 種型號,適合所有應用
• ATD(自動溫度檢測)功能可以主動監測物件
• 單色和雙色紅外測溫儀
• 零視差和通過鏡頭瞄準,配屈光度糾正功能和更廣的瞳孔間距
• 反射光學器件配置大視野和目標識別功能,能夠看見準確的測量區域
• 品質優良且可以聚焦的光學元件,以及精確的鏡頭,可以實現很高的光學解析度
• 堅固的鋁外殼,適合在惡劣的工業環境中使用,不需要額外的保護。
• 通過鏡頭瞄準集成了信號燈功能,可以顯示信號強度和優選測量距離
MORE
半導體應用,晶體生長溫度測量紅外線儀
型號 : keller 測溫儀系列
晶體生長和晶圓加工中的光學溫度測量
MORE
Keller 紅外線高溫計
非接觸式溫度測量
測量範圍-30°C 至 2500°C
型號:Pyrometer CellaTemp PK/PKL/PKF 系列
keller 攜帶式紅外線測溫儀
• 測量範圍 0 – 3000 °C / 32 – 5432 °F
• 有 10 種型號,適合所有應用
• ATD(自動溫度檢測)功能可以主動監測物件
• 單色和雙色紅外測溫儀
• 零視差和通過鏡頭瞄準,配屈光度糾正功能和更廣的瞳孔間距
• 反射光學器件配置大視野和目標識別功能,能夠看見準確的測量區域
• 品質優良且可以聚焦的光學元件,以及精確的鏡頭,可以實現很高的光學解析度
• 堅固的鋁外殼,適合在惡劣的工業環境中使用,不需要額外的保護。
• 通過鏡頭瞄準集成了信號燈功能,可以顯示信號強度和優選測量距離
型號:PT系列
半導體應用,晶體生長溫度測量紅外線儀
晶體生長和晶圓加工中的光學溫度測量
型號:keller 測溫儀系列