Zeta電位儀|奈米粒徑分析
• 測試範圍: -500mv ~ 500mv
• 粒徑範圍: 1nm-10μm(與樣品有關)
奈米粒徑:
• 粒徑範圍:1nm-9500nm
• 重覆性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 準確性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
分子量測試:
• 分子量範圍: 1000Da—2*107Da
• 重覆性誤差:≤5%
• 準確性誤差:≤10%
Zeta電位儀、奈米粒徑分析、分子量測量三個功能於一體的奈米顆粒大小及穩定性的儀器。
Zeta電位測量採用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。奈米粒徑分析採用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快於較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些資訊可以計算顆粒的細微性分佈。分子量測量採用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪製德拜曲線即可得到樣品分子量。
規格參數 |
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Zeta電位 |
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測試範圍 |
-500mv ~ 500mv |
粒徑大小 |
1nm-10μm(與樣品有關) |
樣品池容量 |
400μl |
測試原理 |
ELS(電泳光散射) |
散射角 |
15° |
最大濃度 |
40% w/v |
相關器 |
1000個物理通道 |
電導率範圍 |
200mS/cm |
奈米粒徑分析 |
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粒徑範圍 |
1nm-9500 nm |
重覆姓 |
≤1% (GBRM D50) |
精準度 |
≤1% (GBRM D50) |
測量原理 |
DLS-動態光散射 |
分子量範圍 |
1-20kDa |
雷射光源 |
固體光纖雷射器 |
感測器 |
PMT(光電倍增管) |
相關器 |
1000個物理通道 |
樣品池容量 |
4ml |
樣品池溫控範圍 |
15℃ -90℃ |
散射角 |
90° |
分子量測試 |
|
分子量範圍 |
1000Da—2*107Da |
準確性誤差 |
≤10% |
重覆性誤差 |
≤5% |
測試原理 |
SLS-靜態光散射 |
重覆性:
穩定的折疊光學系統
高速資料獲取與轉換模組
高精度樣品池定位組件
奈米金屬氧化物、水處理、奈米金屬粉、奈米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物製備、水/ 油乳液 、油漆、塗料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有奈米材料研究、奈米材料製備與奈米材料應用等領域。