Zeta電位儀｜奈米粒徑分析
• 測試範圍: -500mv ~ 500mv
• 粒徑範圍: 1nm-10μm（與樣品有關）
奈米粒徑:
• 粒徑範圍:1nm-9500nm
• 重覆性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
• 準確性誤差:≤1％（GBRM D50 偏差）
分子量測試:
• 分子量範圍: 1000Da—2*107Da
• 重覆性誤差:≤5％
• 準確性誤差:≤10％
Zeta電位儀、奈米粒徑分析、分子量測量三個功能於一體的奈米顆粒大小及穩定性的儀器。
Zeta電位測量採用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩定。奈米粒徑分析採用動態光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快於較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度，利用這些資訊可以計算顆粒的細微性分佈。分子量測量採用靜態光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強，繪製德拜曲線即可得到樣品分子量。
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規格參數 |
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Zeta電位 |
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測試範圍 |
-500mv ~ 500mv |
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粒徑大小 |
1nm-10μm（與樣品有關） |
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樣品池容量 |
400μl |
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測試原理 |
ELS（電泳光散射） |
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散射角 |
15° |
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最大濃度 |
40% w/v |
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相關器 |
1000個物理通道 |
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電導率範圍 |
200mS/cm |
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奈米粒徑分析 |
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粒徑範圍 |
1nm-9500 nm |
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重覆姓 |
≤1% (GBRM D50) |
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精準度 |
≤1% (GBRM D50) |
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測量原理 |
DLS-動態光散射 |
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分子量範圍 |
1-20kDa |
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雷射光源 |
固體光纖雷射器 |
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感測器 |
PMT（光電倍增管） |
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相關器 |
1000個物理通道 |
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樣品池容量 |
4ml |
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樣品池溫控範圍 |
15℃ -90℃ |
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散射角 |
90° |
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分子量測試 |
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分子量範圍 |
1000Da—2*107Da |
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準確性誤差 |
≤10％ |
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重覆性誤差 |
≤5％ |
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測試原理 |
SLS-靜態光散射 |
重覆性:
穩定的折疊光學系統
高速資料獲取與轉換模組
高精度樣品池定位組件
奈米金屬氧化物、水處理、奈米金屬粉、奈米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物製備、水/ 油乳液 、油漆、塗料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有奈米材料研究、奈米材料製備與奈米材料應用等領域。
