• Zeta電位儀|奈米粒徑分析

Zeta電位儀|奈米粒徑分析

Zeta 電位
• 測試範圍: -500mv ~ 500mv
• 粒徑範圍: 1nm-10μm(與樣品有關)

奈米粒徑:
• 粒徑範圍:1nm-9500nm
• 重覆性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 準確性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)

分子量測試:
• 分子量範圍: 1000Da—2*107Da
• 重覆性誤差:≤5%
• 準確性誤差:≤10%
型號 : Zeta

Zeta電位儀、奈米粒徑分析、分子量測量三個功能於一體的奈米顆粒大小及穩定性的儀器。

Zeta電位測量採用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩定。奈米粒徑分析採用動態光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進行布朗運動,較小顆粒的移動速度快於較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強,散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度,利用這些資訊可以計算顆粒的細微性分佈。分子量測量採用靜態光散射(SLS)原理,散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強,繪製德拜曲線即可得到樣品分子量。

 規格參數

 Zeta電位

 測試範圍

-500mv ~ 500mv

 粒徑大小

1nm-10μm(與樣品有關)

 樣品池容量

400μl

 測試原理

ELS(電泳光散射)

 散射角

15°

 最大濃度

40% w/v

 相關器

1000個物理通道

 電導率範圍

200mS/cm

 奈米粒徑分析

 粒徑範圍

1nm-9500 nm

 重覆姓

≤1% (GBRM D50)

 精準度

≤1% (GBRM D50)

 測量原理

DLS-動態光散射

 分子量範圍

1-20kDa

 雷射光源

固體光纖雷射器

 感測器

PMT(光電倍增管)

 相關器

1000個物理通道

 樣品池容量

4ml

 樣品池溫控範圍

15 -90

 散射角

90°

 分子量測試

 分子量範圍

1000Da—2*107Da

 準確性誤差

≤10

 重覆性誤差

≤5

 測試原理

SLS-靜態光散射

重覆性:

穩定的折疊光學系統

高速資料獲取與轉換模組

高精度樣品池定位組件

奈米金屬氧化物、水處理、奈米金屬粉、奈米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物製備、水/ 油乳液 、油漆、塗料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有奈米材料研究、奈米材料製備與奈米材料應用等領域。