D2圖像粒徑分析系統主要適用於粗的、粒狀材料的粒徑粒形分析領域。它採用電磁振動加料系統，高亮度LED陣列光源，進口高速CCD，小相差遠心鏡頭等先進硬體技術，在顆粒自由下落過程中隨機拍攝通過鏡頭的顆粒圖像，在拍攝圖像的同時電腦軟體對顆粒進行快速識別和處理，在螢幕上即時顯示每個顆粒的圖像和粒徑粒形資料。由於採用每秒高達120幅的高速CCD，每分鐘能拍攝並處理幾萬個顆粒，並且影像處理軟體能自動判斷和提取粘連顆粒，這些技術極大地提高了顆粒圖像的分析速度、精度和準確性

乾式採用電磁振動進樣和自由落體分散技術，進樣均勻、連續。溼式系統採用離心循環分散系統，流速可調，分散充分。兩者切換極其簡便。

高速CCD 和高速圖像識別軟體：拍攝速度遠遠大於顆粒流動速度，圖像無拖尾現象。採用多執行緒和邊緣識別技術的影像處理軟體，每分鐘能處理超過10000個顆粒，使拍攝與處理同步，提高了準確性和重複性。

適用廣泛
乾式適用:於粗顆粒，團聚體的粒徑粒形分析，尤其適合數百微米至毫米級的粗顆粒及團聚體。
溼式適用:於較細顆粒的粒徑粒形分析。

重複性:
穩定有效的進樣系統。
CCD圖像傳輸系統穩定可靠。
圖像清晰，顆粒之間相互粘連少。
每分鐘能拍攝並處理超過10000個顆粒，大量顆粒能夠有效的提高樣品代表性，提高重複性。

乾式適用情況和領域：
鹽、糖、塑膠製品、催化劑、研磨劑、碳製品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、藥物、礦石。

溼式適用情況和領域：
非金屬礦微粉、水泥等。
漿料、糊狀料、粘連性強的粒狀物料，如離子交換樹脂、濕砂。
與空氣發生物理或化學反映的產品