顆粒形狀圖像分析儀-溼式
• 重覆性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• 準確性誤差:≤1%(GBRM D50 偏差)
• CCD攝影: 120幅/秒
• 顆粒識別速度: ≥10000個/分鐘
W1動態圖像粒徑分析系統是採用了鞘流技術的動態粒徑分析系統。具有攪拌、超音波分散等功能,僅需將樣品放到燒杯裡製成一定濃度的懸浮液就可以進行分析,在拍攝圖像的同時電腦對顆粒進行快速識別和處理,在螢幕上即時顯示每個顆粒的圖像和粒徑資料。分析結果包括反映顆粒形貌的長徑比、圓形度,反映顆粒大小的粒徑分布、典型值、最大顆粒值、特定區間含量、小於或大於某一粒徑含量、指定等效粒徑等。本系統具有成像清晰、分析速度快、操作簡單、結果準確可靠等特點,為磨料、醫藥、高性能金屬粉體材料、電池材料、棒狀針狀材料的研究、生產和應用提供裡一種高精度的分析手段。
規格參數 |
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粒徑範圍 |
4μm -400 μm |
光學放大倍數 |
150-1000倍 |
重覆性 |
≤1% (GBRM D50) |
精準度 |
≤1% (GBRM D50) |
CCD攝影 |
120幅/秒 |
顆粒識別速度 |
≥10000個/分鐘 |
分析項目 |
1.粒徑:包括粒徑分布、典型值、最大粒徑、特定區間含量、大於或小於某粒徑的含量。 |
輸出項目 |
包括原始參數(包括樣品資訊、測試資訊等),分析資料(包括粒徑分布、長徑比分布、圓形度分布、及其典型資料等),分布圖形(區間分布長條圖和累計分布曲線等)。 |
電源 |
AC 220V 、50/60Hz |
儀器尺寸|重量 |
610x300x450mm、22KG |
1.採用鞘流技術,使顆粒排隊通過鏡頭的對焦平面,保證每個顆粒成像清晰,克服了由於離焦導致圖像模糊的現象。
2.採用遠心鏡頭和高速CCD攝影,避免了圖像失真和拖尾現象,使分析結果準確可靠。
3.採用多執行緒和邊緣識別技術,每分鐘可處理10000 個顆粒,拍攝速度與影像處理速度同步,讓圖像分析的具有代表性。
進樣方式:
適用於分布範圍較窄(最大粒徑與最小粒徑之比小於30)的樣品。
1.磨料:碳化矽、剛玉、金剛石、石榴石等。
2.電池材料:球形石墨粉等。
3.金屬粉:球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。
4.非金屬粉:玻璃珠、聚苯乙烯等。
5.針狀粉:矽灰石等。
6.食品:牛奶、麵粉等。
7.其他:研究、教學等。